成都市蘇凈科學(xué)器材有限公司
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UV2800上海恒平紫外可見分光光度計(jì)為大屏幕掃描型雙光束紫外-可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。UV2800上海恒平具有:高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。UV2800上海恒平可滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。
UV2800上海恒平紫外可見分光光度計(jì)為大屏幕掃描型雙光束紫外-可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)確保儀器具有:高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比??蓾M足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。
UV2800上海恒平紫外可見分光光度計(jì)功能:大屏幕LCD,圖譜顯示。光度測(cè)量:定波長(zhǎng)測(cè)試吸光度、透過率和濃度測(cè)量。光譜掃描:掃描速度可選,間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm),峰/谷自動(dòng)檢測(cè),圖譜縮放等功能。定量測(cè)定:?jiǎn)尾ㄩL(zhǎng)法、一階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合,zui多可建立9個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線。動(dòng)力學(xué)測(cè)量(時(shí)間掃描):對(duì)樣品進(jìn)行動(dòng)力學(xué)測(cè)試,測(cè)試間隔時(shí)間可選,可保存1800個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)點(diǎn)。
UV2800上海恒平特點(diǎn):持久的穩(wěn)定性:雙光束光學(xué)系統(tǒng),確保儀器長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定。超低的雜散光:*光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光。高濃度樣品測(cè)試更準(zhǔn)確。顯示操作人性化設(shè)計(jì):大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線,更直觀,用戶操作簡(jiǎn)單方便。燈源更換簡(jiǎn)單方便:法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu),更換氘燈無(wú)需工具,免去換燈時(shí)光路調(diào)試步驟,使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡(jiǎn)單。豐富的可選附件:自動(dòng)比色架等多種附件可供選擇,儀器測(cè)量范圍更加廣泛。UV-Solution 3.0工作站軟件,具有各種測(cè)試、掃描功能(UV2800PC UV2800SPC)。
UV2800上海恒平技術(shù)參數(shù)特點(diǎn):
型 號(hào) | UV2800/UV2800PC | UV2800S/UV2800SPC |
光學(xué)系統(tǒng) | 雙光束 | 雙光束 |
光譜帶寬 | 1.8nm | 0.5、1、1.8、4nm |
波長(zhǎng)范圍 | 190~1100nm | 190~1100nm |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | ±0.3nm | ±0.3nm |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | 0.2nm | 0.2nm |
光度范圍 | T:0~200.00%T A:-0.301~3.0000Abs C:0~9999 | T:0~200.00%T A:-0.301~3.0000Abs C:0~9999 |
光度準(zhǔn)確度 | ±0.3%T | ±0.3%T |
光度重復(fù)性 | 0.1%T | 0.1%T |
雜散光 | ≤0.05%T(220nm和340nm處) | ≤0.05%T(220nm和340nm處) |
基線直線性 | ±0.001A | ±0.001A |
基線漂移 | 0.0005A/h(500nm處) | 0.0005A/h(500nm處) |
噪聲 | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) |
顯示器 | 320×240大屏幕LCD(6英寸) | 320×240大屏幕LCD(6英寸) |
外形尺寸:540*445*230(mm)
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